Röntgenanalytik (XRD / XRF)

Neben der automatisierten Materialcharakterisierung bieten wir unseren Kunden zeiteffiziente und zuverlässige mineralogische Phasenanalysen (XRD) und chemische Gesamtanalysen (XRF) mittels Röntgenanalytik. Ein Vorteil von röntgenbasierten Analyseverfahren ist die schnelle Probenvorbereitung, da das jeweilige Material in Pulverform analysiert wird und kein chemisches Auflösen notwendig ist.

 


Röntgendiffraktometrie (XRD)

Mithilfe von Röntgendiffraktometrie (XRD) lässt sich ein breites Spektrum an Informationen ermitteln. Das Verfahren kann komplementär zu MLA-Analysen zur Charakterisierung von Materialien eingesetzt werden und findet Anwendung entlang der gesamten Wertschöpfungskette. Die Stärke der Röntgendiffraktometrie (XRD) liegt neben der qualitativen und quantitativen mineralogischen Phasenbestimmung in der Analyse von kristallographischen Eigenschaften. So können kristalline Pulver beispielsweise auf die atomare Struktur, den Kristallinitätsgrad, die Kristallorientierung sowie auf Kristalldefekte untersucht werden.

Die Nachweisgrenzen für eine quantitative mineralogische Phasenbestimmung (Rietveld-Analyse) sind phasen- und gemischabhängig. Für eine quantitative Bestimmung ist eine Probenmenge von circa 2 bis 3 g, mit einer Korngröße zwischen circa 2 und 6 µm erforderlich.

Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)

Röntgenfluoreszenzanalytik (XRF) wird zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung verschiedenster Materialien eingesetzt. Das Verfahren findet eine breite Anwendung in der metallverarbeitenden Industrie und wird darüber hinaus zur Analyse von Glas, Keramik und Baustoffen eingesetzt. Röntgenfluoreszenzanalysen ermöglichen eine schnelle und präzise qualitative und quantitative Erfassung von Haupt-, Neben- und Spurenelementen.

Für die Bestimmung werden keine chemischen Aufschlüsse benötigt, da die Proben als Feststoff gemessen werden. Die Nachweisgrenzen sind element- und matrixabhängig und liegen bei der quantitativen Analyse zwischen 10 – 200 ppm. Für eine Hauptelementbestimmung sind je nach Glühverlust circa 2g Probenmaterial erforderlich. Für Spurenelementanalysen werden circa 10 g Probenmaterial benötigt.